Устройство для измерения параметров тонкопленочных элементов (поиск)

1000.00

Артикул: 321 Категория: Метка:

Описание

Устройство для измерения параметров тонкопленочных элементов, позволяющее увеличить чувствительность устройства к неравномерности параметров тонкопленочных элементов по площади подложки в процессе их осаждения. Проведен патентный поиск по следующим странам: США, Россия, Франция, Германия, Япония. Ретроспективность поиска 1965 – 1985гг. Содержит 8 документов.

Отзывы

Отзывов пока нет.

Будьте первым, кто оставил отзыв на “Устройство для измерения параметров тонкопленочных элементов (поиск)”

Ваш e-mail не будет опубликован. Обязательные поля помечены *